冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
    冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
      ◆ 可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能
      ◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃（40℃）
      ◆ 滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求
      ◆ 采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行
      ◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成
      ◆ 通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能
      ◆ 感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實(shí)驗(yàn)有效性
      ◆ 機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能          
   高低溫沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)：
      1.GB/T 10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      2.GB/T 11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
      4.GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
      5.GB/T 2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
      6.GB/T 2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
      7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
      8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
      滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

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